전기 광학 시스템 테스트 스탠드
13623-1B
자동 조종 장치 시스템 pb10 및 pb10a 최종 품목 식별, gg-7.2 기능 분류, pb10 및 pb10a 자동 조종 장치 시스템에 사용되는 증폭기 및 신호 발생기 15401,15406 및 15408 테스트에 사용됩니다. 테스트 스탠드 c/o A 턴 메카이즘 ASSY, ARM, 요크 및 MTG 프레임. MTG 프레임은 테스트 중인 증폭기 및 신호 발생기 기능 설명, 73-07-15 입력 날짜, 33D3-2-33-4 참조 데이터 및 문헌, O/A DIM: 15.000 in. LG., 19.250 인치. W., 29.500 에. h.; 무게 : 100 파운드; 입력 전압 : 115 VAC, 주파수 60 Hz, 단일 위상; 출력 특성 : 회전 속도 분당 36 deg, 분당 180 deg, 분당 360 deg, 분당 1080 deg 일반 특성 항목 설명
DAC | HCC | DMIL | RNCC |
---|---|---|---|
2 | - | - | 3 |
RNVC | SADC | MSDS | RNAAC |
---|---|---|---|
2 | - | - | SB |
표적 및 항법 시스템과 같은 전기 광학 구성 요소를 테스트 및/또는 교정하는 데 필요한 계측 및 장착 시설을 포함하는 항목입니다.
INC | FIIG | Concept | Condition |
---|---|---|---|
40595 | A23900 | - | 1 |
세부 정보
품목이 부품인 최종 장비의 국가 재고 번호 또는 식별 정보.세부 정보
수행된 기능의 범주에 따라 항목의 분류를 식별하는 영숫자 지정입니다.세부 정보
항목이 제공되는 기능, 의도된 용도 및/또는 목적을 설명합니다.세부 정보
항목이 mil-hdbk-300에 입력된 날짜를 나타냅니다.세부 정보
항목과 관련된 정보에 사용할 수 있는 문헌 및 참조.세부 정보
공급 품목에 대한 물리적, 기능적, 성능 특성의 기록.HMIC | PMIC | ESD/EMI | Criticality |
---|---|---|---|
N | A | - | - |
UFC | HMC | LTL | LCL |
---|---|---|---|
73790 | - | P | J |
RVC | WCC | TCC | SHC |
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- | 72D | Z | 9 |
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